JX-SBK50型教學(xué)便攜式澤貝克系數(shù)測(cè)試儀

JX-SBK50型教學(xué)便攜式澤貝克系數(shù)測(cè)試儀可用于熱電材料初選，快速篩選薄膜、塊體等熱電材料樣品；能進(jìn)行均勻性測(cè)試，對(duì)材料內(nèi)外部均勻情況作初步定量評(píng)價(jià)；還適用于本科階段各類熱電材料相關(guān)原理教學(xué)、實(shí)驗(yàn)講解等教學(xué)環(huán)節(jié)。

主要技術(shù)參數(shù)：

1.探筆溫差：熱端固定50℃

2.樣品電阻：≤10kΩ

3.Seebeck量程：≦700μV/K

4.Seebeck分辨率：0.1μV/K

5.Seebeck系數(shù)最快測(cè)試時(shí)間：11s

6.相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差（重復(fù)性）：Seebeck＜5%

7.數(shù)據(jù)記錄：顯示12個(gè)測(cè)試結(jié)果

8.加熱功率：6W

9.樣品尺寸：Seebeck系數(shù)

       方形樣品：長(zhǎng)≥5mm，寬≥1mm

       圓形樣品：直徑≥5mm

       柱形樣品：長(zhǎng)≥5mm，直徑≥0.2mm