ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀
產品分類: 高低溫介電測量系統(tǒng)
ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀關鍵詞:高低溫,介電溫譜,-190℃-600℃,薄膜,塊體ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發(fā)的最新一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線??蓮V泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及
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關鍵詞:高低溫,介電溫譜,-190℃-600℃,薄膜,塊體
ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發(fā)的最新一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線??蓮V泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫范圍從-190℃-600℃,滿足目前極端條件下測試的要求,同時高低溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺,高溫測試夾具與WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外,還可以為用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據實驗方案設計,通過測量C和D值,自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量,同時輸出,測量效率高、數據豐富多樣,是實驗室開發(fā)和研究新材料的重要測量手段。在生產質量控制和優(yōu)化上也是輔助工具。
一、產品特點:
1)高溫介電溫譜儀-高溫介電測量系統(tǒng);
2)測量精度高,控溫,測量頻率寬,抗交流干擾;
3)介電軟件功能強大,擁有完善的測量系統(tǒng);
4)直接得出介電常數實部和虛部的比值曲線;
5)直接得出復阻抗實部和虛部比值曲線的Cole-Cole圖;
6)直接得出機械品質因數Qm;
7)集方案、測量、分析、數字化顯示于一體集成化設計;
8)自主研發(fā)設計電極系統(tǒng),重復性更好,穩(wěn)定性更高;
9)高溫、寬頻下測量材料的介電性能;
10)一次只能測量一個樣品,測量準確度更高;
11)高溫介電測量系統(tǒng)與安捷倫、穩(wěn)科阻抗產品wan美兼容;
12)多種溫度選型,軟件免費升級。
二、主要技術參數:
溫度范圍 -190℃-600℃
控溫精度 ±1℃
頻率范圍:20Hz-50MHz
測量精度:0.05%
控溫方式 連續(xù)升溫和分段升溫
測量精度 0.1℃
升溫斜率 0-10℃min(典型值3℃min)
控溫方式 PID精確控溫
顯示控制 電腦直接顯示
數據接口 USB接口
冷卻方式 液氮
降溫斜率 0-1℃/mim(典型值3℃/min)
測量精度:0.05%
測量原理:平行板電容器原理
供電:220V±10%,50Hz
工作環(huán)境:0℃-55℃
樣品尺寸:φ≤15min,d=3mm
測量方式:2線-4線測量
電極材料:鉑金
儀器尺寸:750×550×560
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